FőoldalCikkekCikkek megjelenítése címkék szerint: teszt

teszt

14-6-rohde-0Laboratóriumi körülmények között az R&S®CMW500 és R&S®SMBV100A típusú berendezés alkotta összeállítás a legmegfelelőbb elrendezés a vészhívó rendszerek mobilhálózati modemjeinek és navigációs vevőinek tesztelésére

PXI Express és LabVIEW segítségével. „Különféle műszerek integrációjához jellemzően számos programozási nyelvet és eszközt kell ismerni"

Hőmérséklet-vezérlő rendszert mutatott be alkatrészek, szenzorok és nyomtatott áramköri hordozók nagy sebességű és magas hőmérsékletű tesztelésére az inTEST Thermal. A Thermostream ATS-750 tiszta, száraz levegőt -90—300 °C közötti hőmérsékleten képes biztosítani olyan elektronikai szerelvények számára, amelyeket magas hőmérsékleten is tesztelni kell

Akár nyolc mobiltelefont is tesztelhetünk egyidejűleg, mindössze egyetlen R&S®CMW típusú műszer és az R&S®CMWS típusú, fejlett kapcsolómátrix segítségével

– NI PXI és LabVIEW segítségével. A cél a fénydiódák jellemzőinek – többek között a nyitó- és záróirányú feszültségek, illetve áram, valamint a fényerő – többcsatornás mérésére szolgáló mérőeszközöket kiváltó, a tesztelendő eszközt pneumatikus vezérléssel automatikusan illesztő és pozicionáló rendszer kifejlesztése

A National Instruments közzétette Kitekintés az Automatizált Tesztelés Jövőjére (2014) (NI Automated Test Outlook 2014) című elemzését, amely bepillantást nyújt a vállalat legújabb mérési technikák és módszertanok terén végzett kutatásaiba. A számos iparág folyamatait elemző tanulmány segítségével a mérnökök és vezetők bármilyen tesztelő rendszert a legújabb stratégiákra és bevált eljárásokra építve optimalizálhatnak

Az Agilent Technologies bemutatta E5063A típusnevű mérőműszerét nyomtatott áramköri hordozók impedanciatesztelésére, amelyet pontossága és megismételhetősége emel ki a mezőnyből. Az analizátor dedikált felhasználói interfésze még több nyelvet támogat, és nagyobb állóképességet biztosít a nyomtatott huzalozású hordozók gyártási környezetére jellemző elektrosztatikus kisülési veszéllyel szemben

Szeretettel várja Önt a National Instruments idei első szemináriumán, ahol az automatizált tesztrendszerek kerülnek fókuszba. A félnapos és ingyenes szemináriumot kifejezetten olyan mérnököknek, vezetőknek és döntéshozóknak ajánlják, akik gyártósori tesztrendszerek tervezésével és karbantartásával foglalkoznak

A MUST System 3 az eredeti MUST (Multicore Universal Solderability Tester – többmagos univerzális forraszthatósági teszter) legújabb evolúciós lépcsője, és egyben minden forraszthatóságtesztelési szabvány nagyapja. A gyártó állítása szerint ez a forraszthatósági tesztelés megkérdőjelezhetetlen iparági mércéje

Új funkciókkal gazdagította JULIET sorozatú asztali tesztereit a GOEPEL electronic. A JULIET teszterek a bővítés után támogatják valamennyi Embedded System Access (ESA) technológiát, amelyek a flash-, PLD- és MCU memóriák gyors programozását, valamint a strukturális és funkcionális kártyatesztelést támogatják. A hagyományos peremfigyelésen felül támogatottak immár további tesztstratégiák is, mint processzoremuláció, VarioTAP és ChipVORX technológiák stb

Tudomány / Alapkutatás

tudomany

CAD/CAM

cad

Járműelektronika

jarmuelektronika

Rendezvények / Kiállítások

Mostanában nincsenek események
Nincs megjeleníthető esemény