A szeminárium kiemelt témakörei
- Modern tesztelési eljárások bemutatása;
- Rendszertervezési megfontolások: az elvégzendő mérések, csatornaszám, kapcsolók, a tesztállomások kialakítása, különleges igények (például: szoros szinkronizáció, nem szokványos mérések, mozgásvezérlés);
- Tesztrendszerek implementációja: a teszt lépéseinek fejlesztése, a megfelelő teszt architektúra kiválasztása, párhuzamos tesztelés;
- Hardverplatformok áttekintése: a legújabb eszközök és lehetséges alkalmazásaik bemutatása;
- Az absztrakciós szintek áttekintése: a firmware-től egészen a teszt vezérléséig. Tesztidők optimalizálása az egyes absztrakciós szintek kódjának módosításával;
- Jegyzőkönyv és adatbázis kapcsolat integrációja a gyártási folyamatba;
- Hibakeresés és a teszt során definiált határértékek kezelése;
- Képzési és hitelesítési programok, rendszerintegrációs lehetőségek.
A szeminárium során a National Instruments mérnökei gyakorlati példákon keresztül mutatják be a fent említett témákat.
Kinek ajánljuk a szemináriumon való részvételt?
- Mérnök kollégáknak, akik egy tesztrendszer tervezési folyamatát végzik;
- Mérnök kollégáknak, akik jelenleg gyártósori tesztrendszerek kezelését végzik, és szeretnék a tesztidők csökkentésével vagy a funkcionalitások bővítésével fejleszteni meglévő rendszereiket, hogy azok új termékek ellenőrzésére is alkalmasak legyenek;
- Döntéshozóknak, akik vállalatuk termék tesztelési stratégiájának alakításában vállalnak szerepet;
- Azoknak, akik a modern tesztelési technika és a terméktesztelés iránt érdeklődnek.
Öné lehet a tesztrendszerek tervezési útmutatója!
Ehhez nem kell mást tennie, mint regisztrálnia a rendezvényre és a regisztrációt visszaigazoló e-mailből máris letöltheti a mérnök kollégák leghasznosabb tapasztalatait tartalmazó útmutatót. A gyakorlati tanácsok segítségével csökkentheti a költségeket, míg tesztrendszerének a hatékonysága növekszik.
Regisztráljon most és máris letöltheti az útmutatót!
Helyszín és időpont
Novotel Budapest City & Budapest Kongresszusi Központ, Mozart terem
1123 Budapest, Alkotás utca 63-67.
2014.02.19. 9:00-13:00
A szeminárium résztvevői számára a parkolás ingyenes a hotel parkolójában.
Amennyiben érdeklődik a szeminárium témája iránt, de nem tud azon részt venni, vegye fel velünk a kapcsolatot a (06-80) 204-704-es telefonszámon, és mérnök kollégánk meglátogatja Önt az Önnek megfelelő időpontban és helyszínen.
Kapcsolódó esettanulmányok
- Tesztrendszer fejlesztése vezeték nélküli, multimédiás tabletek gyártás közbeni teszteléséhez
- National Instruments szoftverek és a PXI platform alkalmazása változó konfigurációjú, automatizált tesztelésre
- Az Analog Devices PXI-vel és LabVIEW-val csökkenti MEMS tesztköltségeit
- A Hittite Microwave az NI PXI vektorjel analizátor-generátorral csökkenti az RF integrált áramkörök teszt költségét és növeli a teszt sebességet
Szeretettel várjuk!
National Instruments Hungary
