FőoldalRendszerintegrátorTesztelési stratégia optimalizálása
2014. április 07., hétfő ::

Tesztelési stratégia optimalizálása

A National Instruments közzétette Kitekintés az Automatizált Tesztelés Jövőjére (2014) (NI Automated Test Outlook 2014) című elemzését, amely bepillantást nyújt a vállalat legújabb mérési technikák és módszertanok terén végzett kutatásaiba. A számos iparág folyamatait elemző tanulmány segítségével a mérnökök és vezetők bármilyen tesztelő rendszert a legújabb stratégiákra és bevált eljárásokra építve optimalizálhatnak

A „Kitekintés az Automatizált Tesztelés Jövőjére (2014)" című tanulmány az alábbi témaköröket érinti:

Üzleti stratégia: szervezeti hatékonyság

A képzett tesztmérnökök száma egyre csökken, így a megfelelő személyzeti ellátottság és képzettségi szint fenntartásához a tesztelési szektor vezetőinek átgondoltabb munkaerő-felvételi rendszert és hatékonyabb beilleszkedési folyamatokat kell bevezetniük, továbbá több figyelmet kell fordítaniuk a szakmai továbbképzésekre és tréningekre a szervezeti hatékonyság fokozásához.

Architektúra: felügyelt tesztelő rendszerek

Az új technológiákkal a tesztelő rendszerekben elérhető funkciók tárháza is kibővül. Ez lehetővé teszi e rendszerek műszaki állapotának állandó megfigyelését, csökkentve ily módon a működési költségeket és maximalizálva a rendelkezésre állást.

Számítástechnika: felhőalapú számítástechnika a tesztelésben

A hagyományos tesztelési eljárásrend korlátozza a jövedelmezőséget, mivel nem teszi lehetővé ideális egyensúly megteremtését a teljesítőképesség és a költségek között, továbbá nem biztosítja a pillanatnyi igények szerinti léptékelhetőséget. A felhőalapú számítástechnika az informatikai iparághoz hasonlóan az automatizált tesztelésben is megoldást adhat ezekre a jelentős kihívásokra.

Szoftver: léptékelhető tesztszoftver-kiépítés

A tesztrendszereket egyre gyorsabban és az erőforrások tekintetében egyre hatékonyabban kell felépíteni, így a merev, rugalmatlan megoldásokról a hangsúly áthelyeződik a szoftveralapú platformokra, ahol a termékélettartam alatt és új termék bevezetése során is maximalizálható az időtállóság és léptékelhetőség.

Be- és kimenetek (I/O): az érzékelők fogalmának újraértelmezése

A termékek egyre több szenzort tartalmaznak, ami a tesztelési vezetőket az új technológiák és a megnövekedett igények tekintetében egyaránt új kihívások elé állítja. Gyorsan testre szabható megoldásokra van szükség, amelyek képesek a szenzorokkal ellátott termékek fejlődési ütemével is lépést tartani.

A Kitekintés az Automatizált Tesztelés Jövőjére (2014) felsőoktatási és ipari kutatások, felhasználói fórumok és felmérések, üzleti előrejelzések és ügyfél tanácsadói testületek ajánlásainak figyelembe vételével készült.

Tudomány / Alapkutatás

tudomany

CAD/CAM

cad

Járműelektronika

jarmuelektronika

Led technológia

Led technológia

Rendezvények / Kiállítások

Mostanában nincsenek események
Nincs megjeleníthető esemény