FőoldalCikkekCikkek megjelenítése címkék szerint: ellenőrzés

ellenőrzés

A Mek (Marantz Electronics) bemutatta legújabb és legnagyobb tudású optikai fejét a PowerSpector és SpectorBOX automatikus optikai vizsgáló gépcsaládokhoz, beleértve egy kombinált alsó/felső oldali vizsgáló változatot is

Az EPP/EMSNow ötéves rendezvénye, az InnovációsFórum idén először indult világ körüli útra. Elsőként Budapestre hozta el az elektronikai gyártástechnológiai világcégek krémjét, szeptemberben Mexikóba látogat, majd visszatér ismét Németországba. A Tudományos Akadémia épületében 120 résztvevő ismerkedhetett meg a világvezető cégek új eszközeivel és első kézből hallhatott a technológiai trendekről

A ZESTRON bővítette analitikai kínálatát egy ionos kromatográfiás méréstechnikai megoldás bemutatásával. A nagyérzékenységű analitikai módszer részletes jelentést készít a nyomtatott áramköri kártyákon megtalálható anionokról, kationokról és gyenge szerves savakról az IPC-TM-650 specifikációk alapján. E mérések útján a bromidok és kloridok jelenléte, illetve mennyisége meghatározható

A Nordson DAGE bejelentette ultranagy felbontású, offline röntgensugaras vizsgálórendszereinek negyedik generációját, a Quadra-sorozatot. Az új rendszereket élőben első ízben a sanghaji NEPCON China és a nürnbergi SMT/Hybrid/ Packaging kiállításon ismerhette meg a nagyérdemű. A házon belüli fejlesztésű, szabadalmaztatott QuadraNT röntgencsővel, Aspire FP detektorral, Gensys analízisszoftverrel és QuadraGen tápegységgel is rendelkező gépekkel a Nordson DAGE soha nem látott képminőséget, megbízhatóságot és teljesítményt hoz a röntgenanalitikai megoldások világába

Új, 3D-s AOI modelleket mutatott be a Viscom a többszörös díjnyertes S3088 rendszercsaládjában. Az új modellekkel a cég szándéka, hogy kiteljesítse a portfóliót és még szélesebb körben tudjon megoldást kínálni az alkalmazási igényekre

Az Optilia Instruments bejelentette új szoftverfejlesztő készlet (SDK) megoldását, amely az Optilia W-sorozatú HD kamerák vezérlésének szoftveres integrációját segíti. Az Optilia által kínált tartozékok, állványok és vezérlési lehetőségek segítségével a felhasználók gyakorlatilag tetszőleges fizikai környezetbe tudják beintegrálni a Full HD képfelbontású, nagy nagyítású képalkotó eszközt (akár x-y sínes rendszerekbe is), sőt az új SDK-val ez a rugalmasság a szoftveres rész tekintetében még tovább bővült

A GE Measurement & Control bemutatta új planarCT modulját a phoenix microme|x és nanome|x röntgenes ellenőrző rendszereihez a jobb és sokkal megbízhatóbb forrasztott kötések elkészítésének érdekében a komplex nyomtatott áramköri kártyákon

Rendkívül gazdaságos úgy AOI eszközt vásárolni, hogy csak a jelenleg szükséges teljesítményt tartjuk szem előtt, maga az eszköz pedig a jövő igényeihez mérten továbbfejleszthető. Ez a gondolkodás állt a Yamaha új megoldása, az YSi-V 5M automatizált optikai ellenőrző rendszer fejlesztése mögött

A Mek SpectorBOX moduláris AOI-rendszereket már a kezdetektől fogva a furatszerelt alkatrészekre és velük kapcsolatos tipikus hibajelenségekre (hiányzás/azonosítás, polaritáshiba, szín, típus, elhajlott kivezetések stb.) optimalizálják. Az újonnan bevezetett, 130 mm biztonságos felső távolság révén most már a Top-Down SpectorBOX gyakorlatilag bármely, készre szerelt elektronikus és elektromechanikus szerelvény vizsgálatára képes, még nagy magasságú alkatrészek esetében is

Magyarország mindig is jelentős izzó- és lámpagyártó régiónak számított. Természetesen a törvényi és technológiai változások ide is begyűrűztek: az izzógyártás lecsökkent, elárasztotta a piacot az olcsó, de megkérdőjelezhető minőségű, LED-alapú világítástechnika. A hazai gyártók új kihívások elé néznek. A LED-es technológiák a legkülönbözőbb területeken feszegetik az SMT gyártástechnológia határait. Persze létezik olyan termék, ami nem kíván semmilyen különleges berendezést/megoldást

Tudomány / Alapkutatás

tudomany

CAD/CAM

cad

Járműelektronika

jarmuelektronika

Led technológia

Led technológia

Rendezvények / Kiállítások

Mostanában nincsenek események
Nincs megjeleníthető esemény