A MEK új fejlesztésű forraszpaszta-vizsgáló rendszerében, az S1 Mk II-ben olyan szabadalmaztatott, második generációs szenzortechnológia működik, amely egyedileg két- és háromdimenziós vizsgálatot tesz lehetővé — egyidejűleg. A nagy sebességű, ún. 5D-technológia az apertúrák határain túl is mér, a 2D/3D komparatív analízis segítségével pedig meg tudja állapítani, hogy a pasztanyomtatásban bármilyen hiba keletkezett-e

A berendezés áttervezett vizsgálófeje továbbfejlesztett 2D-s képrögzítővel rendelkezik. A pontosság és megismételhetőség szempontjából is fejlettebb fej a cég állítása szerint minden jelenlegi rendszeren túlteljesít, különösen vékonyabb szitamaszkok és kisebb alkatrészméretek esetén. A rendszer szabadalmaztatott szenzortechnológiája a két- és háromdimenziós képfeldolgozást egy időben kombinálja, amely jelentős mértékben csökkenti a viszonylag tág, általában a forraszpaszta-vizsgáló rendszerekre jellemző vizsgálati toleranciákat. A MEK új gépével valós területméreteket, alakokat, térfogatot, ofszetet és magassági adatokat lehet mérni, amelyek mind kiváló eszközei a kihozatal növelésének és a folyamatvezérlés finomhangolásának.

A MEK honlapja