FőoldalCikkekCikkek megjelenítése címkék szerint: medexpert

medexpert

Feliratkozás az RSS csatornára

Keysight – Új névvel az elődök nyomában

Az Agilent tavalyi, teszt- és mérőműszer tevékenységének leválasztásáról szóló hírét követően ez év január 7-én Ron Nersesian, az újonnan létrejött vállalat elnök-vezérigazgatója újabb mérföldkövet jelentett be: a vállalat neve Keysight Technologies lesz

Oszcilloszkóp-mérőkábelek veszteségeinek kompenzálása

Nagy pontosságú és megismételhetőségű méréseknél az Agilent PrecisionProbe szoftverrel. Oszcilloszkópos méréseknél a műszer és a bemérendő eszköz (DUT) közötti nélkülözhetetlen kapcsolatot a mérőfejek teremtik meg. Ezek ilyen-olyan mértékben mindenképpen veszteségesek, ezért rontják a mérés pontosságát és megismételhetőségét is

A tápellátás minőségének optimalizálása erős tranziensesemények esetére

Napjaink integrált áramkörei gyorsabbak, mint valaha. A nagy működési sebesség a tápegység részéről nagy dinamikát követel meg, amely a mérések során komoly problémákat okozhat a forrás oldalán, hiszen a nagy sebességű áram-hullámformák beeséseket okozhatnak az IC feszültségszintjeiben

Valósidejű spektrumanalízis a korszerű rádiós alkalmazások szolgálatában

13-5-h-5-0Többek között a vezeték nélküli kommunikációs rendszerekre is jellemző, hogy a specifikációk teljesítése a megbízhatóságot és teljesítményt illetően egyre nehezebb, betudhatóan annak, hogy az újabb generációs rendszereknél gyakori az igény a többsávos rádiókra, a nagy adatsebességre és az integrált kialakításra

Jelek időtartománybeli vizsgálata nagy vertikális felbontású oszcilloszkópokon

Alapfogalmak, koncepciók, megvalósítás, alkalmazások Több olyan oszcilloszkóp is van a piacon, amelyek 8 bitesnél nagyobb vertikális felbontást kínálnak: ezek jó része 12 bites, néhány pedig akár 15 bites felbontással hirdeti magát. Néhány esetben az extra felbontást a standard, 8 bites A/D-átalakítók kimenetére tett digitális jelfeldolgozó áramkörrel érik el, más esetekben konkrétan 12 bites A/D-átalakítót használnak, illetve vannak olyanok is, amelyek e kettő kombinációját valósítják meg. Cikkünkben megvizsgáljuk, hogy valójában mit is jelent a „High Resolution" vagy „High Definition" megnevezésekkel hirdetett nagy felbontás, hogyan viszonyul az A/D-átalakító bitszámához, áttekintjük a nagy felbontású műszerek architektúráját és működését, továbbá elemezzük a vertikális felbontás, a zaj, a mintavételezési sebesség és a sávszélesség egymáshoz való viszonyát...

Az oszcilloszkópok memóriaarchitektúrái az Agilent MegaZoom IV tükrében

A száraz számadatok összehasonlításának buktatói Sokan egyértelműnek vélik, hogy sok esetben léteznek mindent felülbíráló szempontok, hiszen sosem lehet egy autó elegendően keveset fogyasztó, vagy egy ház elég méretes. Ezzel analóg módon sok oszcilloszkópfelhasználó is úgy gondolkodik, hogy nincs az a csatornamemória, amelyet ne lehetne kihasználni. Ám, akárcsak az autó vagy a ház esetében (gondoljunk csak a jármű menetdinamikai jellemzőire vagy a ház rezsiköltségeire), az oszcilloszkópoknál is igen erős kompromisszumkészséget követel meg ez a hozzáállás. Cikkünkben kifejtjük, miért fontos paraméter az oszcilloszkópoknál a csatornamemória, milyen előnyei/hátrányai vannak az egyes műszerarchitektúráknak és mely technikákkal lehet a legjobban kihasználni a rendelkezésre álló memóriát

Napelemcellák és -modulok elektronikai tesztelése az Agilent Technologies megoldásaival

Hogyan csökkentsük a költségeket a rugalmasság szerint felépített mérőrendszerben? A napenergiát hasznosító rendszerek iránt növekedő kereslet nyomán nő az igény a diszkrét napelemcellák és -modulok elektronikai tesztelésére. A kulcsrakész tesztrendszerek előnye, hogy gyorsan munkára foghatók, azonban ennek meg is kérik az árát, és megvan az a kockázat is, hogy a teljes rendszer a technológiák gyors fejlődése miatt gyorsan elavul. Ezzel szemben a rendszer elemekből való felépítése kevesebbe kerül, az elemek több tesztrendszerben is felhasználhatók, és is a követelmények alakulása nyomán igény szerint cserélhetők

Alkatrésztesztelés

az Agilent InfiniiVision X-sorozatú oszcilloszkópok beépített függvénygenerátorával
Az Agilent Technologies InfiniiVision X-sorozatú oszcilloszkópjai az elektronikai teszt- és mérőműszerek piacán egyedülállóként beépített függvénygenerátorral is rendelkeznek, amely – számos egyéb mellett – rendkívül hatékony, integrált mérési megoldás elektronikai alkatrészek bemérésére is. Természetesen ezek a műszerek nem egyenértékűek a speciálisan alkatrész-tesztelési célra fejlesztett, lényegesen pontosabb és nagyobb tudású célműszerekkel, azonban ez utóbbiak nem állnak mindig, mindenhol rendelkezésre. Cikkünkben olyan mérési módszert ismertetünk, amelynek alapötlete, hogy az alkatrészre az oszcilloszkóp beépített függvénygenerátorával gerjesztést adva mérjük annak időtartománybeli válaszát a műszeren, elsősorban alapbemérési és hibabehatárolási céllal

13,56 MHz frekvenciájú RFID címkék mérése hálózat- és impedanciaanalizátorokkal

Az RFID azonosítórendszerek olyan elektronikus eszközök, amelyek érintkezés nélkül azonosítják az arra felkészített objektumokat, valamint érzékelik jelenlétüket. Az RFID technológiát már a 80-as évek óta alkalmazzák olyan speciális esetekben, mint a például tengeri áruszállítás, közlekedésinformációs rendszerek stb., a 90-es évek közepe óta tartó miniatürizálástól kezdve pedig pedig a kevésbé egyedi területeken is egyre népszerűbbé váltak e rendszerek. Az RFID frekvenciák, kommunikációs megoldások, célalkalmazások stb. ma már több szabvány szerint is szabályozottak. Cikkünkben a tömeggyártott, 13,56 MHz-es RFID címkék, illetve író/olvasó eszközök méréstechnikájára mutatunk be megoldásokat

Energiabegyűjtő, vezeték nélküli eszközök méréstechnikája

A vezeték nélküli szenzorok és vezérlő áramkörök mikroméretű energiabegyűjtők1 segítségével képesek telep nélküli működésre. Ehhez azonban a fejlesztők részéről a rendelkezésre álló (begyűjthető) energia, valamint az eszköz teljesítményfelvétele tekintetében óvatos tervezés szükséges. A feladatot nagyban egyszerűsíti, ha az eszközök dinamikus viselkedésekor adott a lehetőség a teljesítményfelvétel pontos mérésére. Cikkünk erre mutat példát és megoldást

3. oldal / 5

Tudomány / Alapkutatás

tudomany

CAD/CAM

cad

Járműelektronika

jarmuelektronika

TMS-2023-06-09
Phoenix – 2021_02
Rohde & Schwarz 2023

Rendezvények / Kiállítások

Mostanában nincsenek események
Nincs megjeleníthető esemény
Sicontact 20211025