A BIST (Built-In Self-Test, beépített ön-teszt) az elektronikus eszközök és készülékek állapotáról nyújt információt. Ez a diagnosztikus módszer lehetővé teszi, hogy például a kapacitív membrán MEMS mikrofonok esetén a nyert adatok felhasználásával növelni tudják az eszköz megbízhatóságát. Az ilyen BIST és BISR (Built-In Self-Repair, beépített ön-javítás) megoldások megvalósíthatósága érdekében egy négyszintű, gépi tanulási módszert fejlesztettek ki.
A sorozat első részeként "A framework for BIST for MEMS: Application to MEMS microphones” (BIST megoldások alkalmazása MEMS mikrofonokhoz) című előadást Marc Desmulliez, fejlett gyártási technológiák szakértője mutatja be.
Bővebb információ: ITT
Az ingyenes webináriumokra regisztráció szükséges: Registration | IMAPS Europe Events
