Hardware In the Loop (HIL) tesztkörnyezet építése

A National Instruments szeretettel meghívja Önt a Hardware In the Loop (HIL) tesztkörnyezet építése – gyakorlati szemináriumra. A félnapos és díjmentes gyakorlati szeminárium elsősorban azon mérnököknek és kutatóknak szól, akik szabályozástechnikai modellek készítésével, szabályozó algoritmusok fejlesztésével és ezek tesztelésével foglalkoznak.

A gyakorlati szeminárium a teljes fejlesztési láncon végigvezeti a résztvevőket egy DC motor példáján keresztül. A gyakorlaton egészen a rendszermodell felállításától a valósidejű HIL teszt automatikus futtatásáig juthatunk el. A szabályozástechnikai modell és a szabályozó algoritmus fejlesztéséhez a LabVIEW Control Design and Simulation modul elemeit, míg a HIL teszt környezet felépítéséhez az NI Veristand környezetet használjuk majd. A résztvevők betekintést nyernek majd a Matlab modellek RT futtatási és HIL környezetbe történő integrálásának lehetőségeibe is.

A szeminárium témakörei:

• Meghívott előadónk, Dr. Fodor Dénes a Pannon Egyetemről bemutat néhány Hardware In the Loop esettanulmányt (modellek verifikációja, például: ABS)
• Gerjesztés/válasz vizsgálat a National Instruments beágyazott rendszerének (CompactRIO) segítségével
• Rendszer-identifikáció és szabályozástechnikai vezérlő tervezése
• HIL környezet felkonfigurálása (NI Veristand) és modell-importálás
• HIL tesztek futtatása manuálisan és a tesztek automatizálása
• Matlab modellek RT futtatási és HiL környezetbe integrálásának lehetőségei
• HIL és RT tesztek automatizálása és teszt menedzsment környezet felépítése

Helyszín: National Instruments iroda

1117 Budapest, Neumann János u 1/E II. emelet

Időpont:

2014. szeptember 4 , 9:00-13:00

Tekintse meg a 9 perces videót a HIL-teszt alapjairól!

Fedezze fel az NI HIL platformban rejlő lehetőségeket!

NI HIL szimulátor rendszerek

Kapcsolódó esettanulmányok:

Az NI VeriStand felhasználási területei

Újrakonfigurálható HIL-szimulátor járműdinamikai elektronikus vezérlőegység NI VeriStand és NI TestStand segítségével történő fejlesztéséhez és teszteléséhez